《GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分：高温工作寿命》是中国国家标准化委员会发布的标准，用于评估半导体器件在高温工作条件下的寿命和可靠性。该标准主要描述了高温工作寿命试验的方法和要求。

一、范围：
GB/T 4937的本部分用来确定偏置条件和温度对固态器件随时间的影响。本部分模拟器件在加速试验条件下工作，主要用于鉴定和可靠性检验。
电老炼是一种短期高温偏置寿命试验，用于筛查相关的早期失效。电老炼的详细使用和应用范畴不属于本部分范畴。

二、试验项目：
高温试验。

三、试验设备：
高温试验箱。

四、设备厂商：
果博仪器

五、试验程序（部分）：

1. 应力条件
应对器件持续施加应力条件（临时测试除外)。实验室升温以达到加速寿命条件、实验室降温以达到室内条件和进行临时测试等均不能视为总指定试验时间的一部分。

2. 环境温度
除另有规定外，工作环境温度和高温应力的偏置条件应做调整，以维持在所需的温度应力范围。本试验条件典型值为结温125℃，时间1000 h。除另有规定外，低温应力环境温度最大为-10 ℃。

3. 工作电压
除另有规定外，试验的工作电压应是器件指定的最大规定电压，达不到5.2.1中的条件除外。为达到加速寿命的目的，加压和升温具有一样的效果，因此可以使用更高的电压;但该电压不能超出器件所允许的最大额定电压，并且该电压应获得器件制造商的认可。

通过高温工作寿命试验，可以评估半导体器件在长时间高温工作下的性能稳定性和可靠性，为器件的设计、制造和使用提供参考依据。试验结果可以用于判断器件的寿命预测、产品质量控制以及可靠性改进等方面。