GB/T 10233-2016 是中国国家标准，标题为《低压成套开关设备和电控设备基本试验方法》（Low-voltage switchgear and controlgear assemblies - Methods for basic testing under normal and fault conditions）。

该标准规定了低压成套开关设备和电控设备在正常工作和故障条件下进行基本试验的方法，用于评估其性能和可靠性。

一、范围：
本标准规定了低压成套开关设备和电控设备(以下简称成套设备)型式试验和出厂试验的基本方法。

本标准适用于GB 7251.1-2013和GB/T 3797所规定的试验项目。

二、试验项目：
耐腐蚀试验、耐紫外线（UV）辐射试验、碰撞试验、高低温试验、湿热试验、高低温冲击试验、等。

三、试验设备：
恒温恒湿试验箱、盐雾试验箱、氙灯老化试验箱、高低温冲击试验箱、碰撞试验台等。

四、设备厂商：
果博仪器

五、试验程序（部分）：

高、低温冲击试验

高﹑低温冲击试验的目的是考核控制单元的储存、运输及使用过程中受空气温度迅速变化的能力，同时考核印制板组装件的焊接质量及对早期失效的元、器件进行筛选。

试验时设备应在没有包装及不工作状态下进行。

设备先置于温度为TL，的低温箱中存放到规定时间t1，然后取出置于试验室内的环境温度下保持时间为t2，再放入到温度为TH的高温箱中存放到规定时间t3，再取出置于试验室环境温度下保持时间t2。此即为一次循环(见图4)。循环次数应不小于5次。

温度TL、TH，及时间t1，t3取决于设备的热容量及对产品要求考核的严酷程度，应在有关产品的标准中加以规定。若无特殊需要，一般应不低于本标准规定。

TL=-40 ℃

TH=+60 ℃

t1=t3不小于30 min

t2不小于2 min，不大于 3 min。对于自动两箱设备， t2可以小于30 s，而且不需放在试验室温度下。

试验时温度允许偏差范围应在±3 ℃之内。

试验温箱的容积及其空气循环应使设备放入后，在5 min或存放时间的10%内(两者取其中较小者的数值)，其温度应保持在规定允差之内。

经过高﹑低温冲击试验后，待设备恢复到试验室环境温度后进行外观检查及测试其电气性能，应符合所规定要求。

通过遵循 GB/T 10233-2016 标准，可以对低压成套开关设备和电控设备进行基本试验，以验证其在正常工作和故障情况下的性能和可靠性，确保其安全运行和符合技术要求。同时，该标准还为制造商、设计人员和使用者提供了基本试验的方法和指导，以保障低压电气设备在使用过程中的安全性和稳定性。