《GB/T 12085.23-2022 光学和光子学 环境试验方法 第23部分：低压与低温、大气温度、高温或湿热》是中国国家标准，属于光学和光子学领域。该标准规定了一种综合环境试验方法，用于评估光学和光子学设备在低压、低温、大气温度、高温或湿热等复杂环境条件下的性能。

一、范围：
本文件描述了低压与低温、大气温度﹑高温或湿热综合试验的环境试验方法。

本文件适用于光学和光子学仪器以及来自其他领域附属组件(如机械、化学和电子设备)的低压与低温、大气温度﹑高温或湿热综合试验。

二、试验项目：
温度湿度低气压综合试验。

三、试验设备：
高低温低气压试验箱（室）。

四、设备厂商：
果博仪器

五、试验程序（部分）：

为了达到试验温度﹐应在压力降低之前开始制冷。在调整气压之前，试样应达到规定的测试温度。在恒定的试验箱(室)温度下，热有效试样应受试验温度的影响，直至试样的温度变化不超过1K/h，然后开始降压。在此过程中，允许试样内部发热。

当试样各部分达到试验箱(室)温差3K以内，且达到规定压力时，即开始条件试验周期。
条件试验完成后,按相关规范规定，在压力上升期间，试样上应形成凝露或结霜。有两种方法可以在试样上形成凝露或结霜。

以下两种方法中的一种应在相关规范中规定。

a）低压条件下产生结霜

在温度为-20 ℃~-10 ℃范围内和低压为40 kPa的范围内加热过程中，水蒸气充满了试验箱(室)。

b)标准条件下产生结霜

在加热期间,试验箱(室)内的压力调整到标准压力，同时温度保持在-20 ℃~-10 ℃。

由于温度低，水分在试样上冻结和凝结。在终试期间，当存在结霜时，不准许试样产生内在热，以防止试样干燥。

在试验箱(室)内和试样上都应测量温度。温度传感器在试样上的位置应在相关规范中规定。

测试报告中应注明用于测量箱(室)内空气温度的温度传感器的位置。

综合环境试验是为了模拟光学和光子学设备在实际使用中可能遇到的多种极端环境条件，包括低温、低压、高温、湿热等。这些试验有助于评估设备在这些条件下的性能和可靠性，以确保其在实际应用中能够正常工作。这对于需要在各种环境条件下使用的光学和光子学设备非常重要，如卫星通信设备、激光测量仪器、航天器载荷等。通过进行综合环境试验，可以确定设备的耐受性，以减少在实际使用中的故障风险。