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常见问题
PCIE SSD BIT测试柜
一、产品简介:
BIT(Burn-In Test)测试就是使用BIT软件对固态硬盘进行循环写入测试,再放入高温箱中静置。PCIE SSD BIT测试柜可以提供SSD的BIT测试所需要的高温老化环境,目的是为产品做潜在失效分析,因为在长时间读写和高温环境下,会加速芯片老化,可能导致故障提前出现。
二、技术参数:
三、产品特点:
单口最大速度4000MB/S,满载同时工作时最高速度1500MB/S。
共12台电脑,每台电脑同时测试8个PCIE NVME SSD。
可配合自动测试软件一键操作。
每个端口带保护座,座子坏了直接换保护板。
每个端子配12V转3.3V5A供电,提供充足的工作电流,并带短路过流过热保护。
插入下压式母座,不会用久后接触不良。
硅胶定位柱,轻松上下盘,用久后不会手痛,且上面盘效率更高。
有32、40、60、80各种长度的定位孔,适合测试各种长度的SSD。
四、BIT电气规格:
单口输出电压:DC 3.3±0.15V
单口输出最大电流:5A
电源输出接口:96PCS
单口最大速度:32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S
满载同时工作最大速度:16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S
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