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可程序硬盘高低温度BIT老化箱的测试应用
固态硬盘(SSD)在生产过程中,需要进行一系列的试验,可程序硬盘高低温度BIT老化箱在SSD的应用中,是属于温湿度环境测试的一个重要试验项目,下面是该试验的过程。
测试硬件:果博仪器 可程序硬盘高低温度BIT老化箱
测试环境:高温80℃/低温-40℃
测试样品:固态硬盘
测试依据:YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范
测试流程:
1.BIT老化箱设置为128KB顺序写,队列深度32,运行BIT老化箱。
2.以不大于20℃/h的温降速度从常温到-40度。
3.被测硬盘-40℃环境中,静置72小时。
4.以不大于20℃/h 的温升速度从-40℃到 80℃。
5.被测硬盘80℃环境中,静置72小时。
6.以不大于20℃/h的温升速度,使环境温度从80℃降到25℃,静置24小时。
7.BIT老化箱设置为128KB顺序写,队列深度32,运行BIT老化箱。
8.比较步骤1、7的测试结果。
高低温测试中,筛选不合格的盘片,其中包括了焊接问题、颗粒问题、DRAM以及主控问题,通过BIT测试,能保证盘片在使用过程中稳定可靠。
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