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常温BIT测试老化柜
一、产品简介:
常温BIT测试老化柜是用于固态硬盘(SSD)常温读写测试(BurnInTest,BIT)的试验设备,老化柜可以提供固态硬盘运行所需要的稳定温度,为BIT测试提供保障。
二、满足标准:
YD/T 3824-2021 面向互联网应用的固态硬盘测试规范
JEDEC 218
三、技术参数:
四、产品特点:
1、根据不同的要求提供测试电脑配置。
2、机柜采用1.0冷轧钢板,外部烤漆处理,坚实耐用,美观大方。
3、每层电脑采用抽屉式摆放,方便电脑散热和后期维护。
4、机柜顶部配有220V散热风扇,背板为高密度六角单开网孔门,通风率≥75%,门和侧板为可拆卸式结构,保证测试电脑运行环境良好。
5、机柜底部有万向轮和固定脚杯,方便移动设备。
五、测试要求:
SSD测试在实验室常温40℃的环境下进行的BIT测试,根据JEDEC 218的要求,整个测试过程所需要的测试时长为1000h,在刚启动开始测试时,BMC通过MI协议获取的SSD的NAND温度值为40℃左右,当测试时长达到1000小时,NVME SSD就完成了在常温环境下进行BIT的测试。
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